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英國新技術 從彈殼上讀取指紋

從金屬彈殼上獲取指紋示意圖。(Shutterstock)
從金屬彈殼上獲取指紋示意圖。(Shutterstock)

編譯/張妮
英國研發的一項新技術,可以從像金屬彈殼這樣的材料表面精確的取得嫌犯的指紋,而且不會對指紋造成損害。研究人員說,在長達7個月的實驗期間反覆讀取指紋,得到的圖像質量都沒有下降。

取得彈殼上的指紋是法醫學上很困難的一個領域。子彈射出後,彈殼經受了高溫、高壓和很大的摩擦力,任何一個因素都會對彈殼上的指紋起到破壞作用。指紋由水分、胺基酸、脂質這些物質組成,不僅容易被擦除,也很容易被子彈發射過程中附帶的彈藥粉末、推進劑等殘餘物玷汙或覆蓋住。

因此像超能膠煙燻方法(Super-glue fuming)和螢光染色法(fluorescent staining)等傳統獲取指紋的方法對此幾乎無能為力。

英國諾丁漢大學(University of Nottingham)的研究人員在飛時測距二次離子質譜儀(ToF-SIMS)的基礎上,開發了一個旋轉支架,兩者配合可以在彈殼這樣的曲面上,取得高質量的指紋圖像。飛時測距就是通過測量光飛行的時間來計算距離。

ToF-SIMS技術敏感度很高,發射高能正離子束照射取樣的表面,把表面反射回來的「次離子束」通過飛時測距分析器,分析這些離子的質量與電荷比,從而得知檢查表面的化學成分構成。

這種方法得到的指紋圖像,連指紋的紋路和毛孔的細節都能看出來,分辨率比傳統取指紋技術高得多。

研究顯示,他們在長達7個月的時間內反覆用這個方法檢測一個彈殼上的指紋。這種方法不會對指紋造成傷害,所得到的圖像質量不會隨著時間的流逝而降低。

主要研究者之一諾丁漢大學物理和天文學系的夏普(James Sharp)說:「給這個技術加上一個旋轉支架太好了。我們已經證明了ToF-SIMS的高分辨率成像能力。配合新的旋轉支架,這種技術提取指紋的能力又上了一個臺階,在不會破壞指紋的情況下,能夠從各種材料、各種形狀的表面讀取指紋。」

這份研究11月10日發表於《分析家》(Analyst)期刊。◇